導(dǎo)彈BIT技術(shù)探討及應(yīng)用展望

摘要： 以導(dǎo)彈測(cè)試為背景,簡(jiǎn)述了測(cè)試儀器總線及綜合測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。介紹了導(dǎo)彈測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀,由此引出導(dǎo)彈BIT技術(shù)發(fā)展的需求,并對(duì)導(dǎo)彈BIT技術(shù)已有基礎(chǔ)和設(shè)計(jì)應(yīng)用進(jìn)行探討,回顧了BIT技術(shù)發(fā)展過(guò)程。最后介紹了導(dǎo)彈BIT技術(shù)的發(fā)展并對(duì)基于導(dǎo)彈BIT技術(shù)的幾種新技術(shù)應(yīng)用做出簡(jiǎn)要介紹和展望。 （共6頁(yè)）