采用數(shù)據(jù)降維的固態(tài)硬盤故障檢測方法
西安交通大學(xué)學(xué)報(bào)
頁數(shù)： 10 2022-08-09
摘要： 針對固態(tài)硬盤SMART數(shù)據(jù)包含大量高維數(shù)據(jù)特征導(dǎo)致故障檢測準(zhǔn)確率不理想的問題，結(jié)合固態(tài)硬盤SMART數(shù)據(jù)的時(shí)序特點(diǎn)，基于門控循環(huán)單元對傳統(tǒng)自動(dòng)編碼器的結(jié)構(gòu)做了改進(jìn)，提出了一種基于門控循環(huán)單元稀疏自動(dòng)編碼器降維的固態(tài)硬盤故障檢測方法(GAL)。首先利用固態(tài)硬盤SMART數(shù)據(jù)訓(xùn)練GRUAE模型，然后利用GRUAE模型中的編碼器作為降維的工具，對固態(tài)硬盤的原始高維SMART數(shù)據(jù)進(jìn)行降... （共10頁）
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