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通用CPU性能基準(zhǔn)測試研究綜述

電子學(xué)報 頁數(shù): 11 2023-01-15
摘要: CPU性能基準(zhǔn)測試旨在給出可對比、定量的指標(biāo)數(shù)據(jù),為產(chǎn)品選型提供依據(jù),它已成為引領(lǐng)計算產(chǎn)業(yè)發(fā)展的風(fēng)向標(biāo)之一. CPU技術(shù)發(fā)展迅速,性能基準(zhǔn)測試也在不斷演進.本文對包含SPEC CPU在內(nèi)的主流基準(zhǔn)測試進行了研究,從測試目標(biāo)、測試方法等角度,綜述主流CPU基準(zhǔn)測試的演進過程、最新研究成果,以及通用CPU性能指標(biāo)和基準(zhǔn)測試需求,分析了通用CPU性能基準(zhǔn)測試所面臨的挑戰(zhàn),并對今后可能... (共11頁)

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