人工智能背景下測(cè)量?jī)x器技術(shù)發(fā)展探討
電子測(cè)量技術(shù)
頁(yè)數(shù): 6 2023-12-08
摘要: 電子測(cè)量技術(shù)作為裝備發(fā)展、科技創(chuàng)新的基礎(chǔ)性和引領(lǐng)性技術(shù),其發(fā)展水平對(duì)提升國(guó)家科技水平、增強(qiáng)國(guó)防科技力量有著重大影響。在數(shù)字化、智能化、網(wǎng)絡(luò)化高新技術(shù)快速發(fā)展背景下,測(cè)試需求和測(cè)試任務(wù)不斷演化,對(duì)測(cè)試指標(biāo)和測(cè)試功能提出更高要求,傳統(tǒng)測(cè)試技術(shù)急需與先進(jìn)技術(shù)融合創(chuàng)新發(fā)展,打破原有技術(shù)瓶頸,為國(guó)家戰(zhàn)略科技力量貢獻(xiàn)積極作用。該文在概述測(cè)量?jī)x器發(fā)展現(xiàn)狀和驅(qū)動(dòng)因素基礎(chǔ)上,討論了人工智能技術(shù)對(duì)... (共6頁(yè))