Zn吸收邊附近質(zhì)量衰減系數(shù)測(cè)量

摘要： 物質(zhì)材料的光子質(zhì)量衰減系數(shù)的準(zhǔn)確值可為不同領(lǐng)域提供基本數(shù)據(jù)。由于單能X射線輻射裝置能量連續(xù)可調(diào)、光子數(shù)可測(cè)，產(chǎn)生的X射線單能窄束，使其成為研究質(zhì)量衰減系數(shù)(μ/ρ)的理想器件。研究了在8～20 keV能量范圍內(nèi)，Zn樣品在K吸收邊附近(9～11 keV),以0.1 keV步長，基于單能X射線裝置的質(zhì)量衰減系數(shù)測(cè)量方法，并利用實(shí)驗(yàn)得到的測(cè)量值與NIST理論值進(jìn)行比較分析。結(jié)果表明... （共5頁）